屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能測試或性能測試是安裝的最後階段，這也可(kě)能是最重要的階段。不幸的是，測試過程被認為(wèi)是麻煩的或在某種程度上(shàng)被認為(wèi)是不可(kě)思義,事實上(shàng)，屏蔽室的測試标準是一緻的。

主要的區(qū)别在于測試所用的設備不同。

事實上(shàng)，屏蔽效能測試很(hěn)簡單，并與MIL-STD-220也就是插入損耗測試标準是一緻的。主要的區(qū)别在于測試所用的設備不同。

屏蔽房(fáng)屏蔽效能測試基本上(shàng)等同于電(diàn)子測試設備的校(xiào)準。與測試設備一樣，當小(xiǎo)型屏蔽房(fáng)的屏蔽效能降低(dī)時(shí)就需要對其進行(xíng)校(xiào)準。當校(xiào)準屏蔽房(fáng)或測定屏蔽暗室的屏蔽效能時(shí)，要使用輻射測試技(jì)術(shù)。所幸的是美國軍方和(hé)安全部門(mén)已建立了相應的标準。這些(xiē)标準描述了特定頻率和(hé)測試場(chǎng)地條件下的測試方法、設備和(hé)測試過程。這些(xiē)測試過程經過微小(xiǎo)的調整，就能應用于任何屏蔽房(fáng)的安裝，并滿足用戶要求。

測試屏蔽效能最經常用到的兩個(gè)測試标準或測試程序是MIL-STD-285和(hé)NSA65-6。這些(xiē)文件描述了對設備配置和(hé)測試場(chǎng)地的要求。每個(gè)程序中也規定了測試頻率和(hé)衰減量。

屏蔽房(fáng)屏蔽效能測試标準的描述
 MIL-STD-285屏蔽效能測試标準

近年來(lái)， MIL-STD-285不但(dàn)在工業界廣為(wèi)應用，而且迄今為(wèi)止應用最為(wèi)廣泛。 MIL-STD-285規定的測試程序在屏蔽室規範上(shàng)經常被引用，但(dàn)其頻率需根據用戶要求進行(xíng)調整。
 MIL-STD-285是第一個(gè)頒布的用于測試射頻屏蔽小(xiǎo)室标準，它頒布于1956年６月，用于替代頒布于1954年８月的MIL-A-18123（SHIPS)。
MIL-STD-285标準的主要目的是為(wèi)了建立一種标準或者方法，用于測量射頻屏蔽室的衰減特性，這些(xiē)屏蔽室用于頻率範圍從100KHZ到10GHZ的電(diàn)子測試。該标準包括對測試頻率、測試場(chǎng)地和(hé)屏蔽衰減（或者屏蔽效能）的要求。
MIL-STD-285５屏蔽房(fáng)屏蔽效能測試标準也提供了關于測試所需設備種類的描述。盡管 MIL-STD-285标準覆蓋了從100KHZ到10GHZ的頻率範圍，但(dàn)它僅僅要求測量屏蔽室在５個(gè)頻率點的衰減特性（參見表１）